タグ：表面欠陥検出
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磁粉探傷試験（MT）
目的 表面欠陥検出 試験体を磁化して磁粉を散布し、微細な表面きずを高精度に検出。 開口していない表面近傍のきずも検出可能。 磁粉探傷試験とは 磁粉探傷試験（MT：Magnetic…詳細を見る -
浸透探傷試験（PT）
目的 表面欠陥検出 浸透液・除去液・現像剤を適用することで、表面に開口した微細なきずの像を拡大して可視化。 浸透探傷試験とは 浸透探傷試験（PT：Penetrant Testing）は…詳細を見る -
渦電流探傷試験（ET）
目的 表面欠陥検出 導電性のある試験体に電流を流し、電流の変化を検出してきずの有無を判定 渦電流探傷試験とは 渦電流探傷試験（ET:Eddy Current Testing）と…詳細を見る
